Flicker noise fluctuations in deep submicron MOSFETs

166 p.

Detalles Bibliográficos
Autor principal:	Chew, Johnny Kok Wai
Otros Autores:	Yeo Kiat Seng
Formato:	Tesis
Publicado:	2010
Materias:	DRNTU::Engineering::Electrical and electronic engineering::Semiconductors
Acceso en línea:	https://hdl.handle.net/10356/39154

Descripción
Sumario:	166 p.

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