Investigation of multilayer thin films using ellipsometry
Light emission from silicon-based materials is a very important research area for optoelectronic and display applications. It is important to derive a practical light source from silicon in order to have complete photonic integrated circuits on silicon. An efficient silicon based light emitting devi...
| Tác giả chính: | |
|---|---|
| Tác giả khác: | |
| Định dạng: | Luận văn |
| Ngôn ngữ: | English |
| Được phát hành: |
2013
|
| Những chủ đề: | |
| Truy cập trực tuyến: | http://hdl.handle.net/10356/53469 |