Investigation of multilayer thin films using ellipsometry
Light emission from silicon-based materials is a very important research area for optoelectronic and display applications. It is important to derive a practical light source from silicon in order to have complete photonic integrated circuits on silicon. An efficient silicon based light emitting devi...
Tác giả chính: | |
---|---|
Tác giả khác: | |
Định dạng: | Luận văn |
Ngôn ngữ: | English |
Được phát hành: |
2013
|
Những chủ đề: | |
Truy cập trực tuyến: | http://hdl.handle.net/10356/53469 |