Investigation of multilayer thin films using ellipsometry

Light emission from silicon-based materials is a very important research area for optoelectronic and display applications. It is important to derive a practical light source from silicon in order to have complete photonic integrated circuits on silicon. An efficient silicon based light emitting devi...

Mô tả đầy đủ

Chi tiết về thư mục
Tác giả chính: Tikkiwal Vinay Anand.
Tác giả khác: Rusli
Định dạng: Luận văn
Ngôn ngữ:English
Được phát hành: 2013
Những chủ đề:
Truy cập trực tuyến:http://hdl.handle.net/10356/53469