An Electromagnetic Fault Injection Sensor using Hogge Phase-Detector

Fault injection attack against embedded devices has attracted much attention in recent years. As a highly efficient fault injection, EM fault injection (EMFI) outperforms other injection means owing to its outstanding penetration capability in incurring local faults into security ICs. In this paper,...

Ամբողջական նկարագրություն

Մատենագիտական մանրամասներ
Հիմնական հեղինակներ: Breier, Jakub, Bhasin, Shivam, He, Wei
Այլ հեղինակներ: 2017 18th International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED)
Ձևաչափ: Conference Paper
Լեզու:English
Հրապարակվել է: 2018
Խորագրեր:
Առցանց հասանելիություն:https://hdl.handle.net/10356/88795
http://hdl.handle.net/10220/44742