Robust intermediate read-out for deep submicron technology CMOS image sensors

In this paper, a CMOS image sensor featuring a novel spiking pixel design and a robust digital intermediate read-out is proposed for deep submicron CMOS technologies. The pro...

সম্পূর্ণ বিবরণ

গ্রন্থ-পঞ্জীর বিবরন
প্রধান লেখক: Chen, Shoushun, Farid, Boussaid, Amine, Bermak
অন্যান্য লেখক: School of Electrical and Electronic Engineering
বিন্যাস: Journal Article
ভাষা:English
প্রকাশিত: 2010
বিষয়গুলি:
অনলাইন ব্যবহার করুন:https://hdl.handle.net/10356/93563
http://hdl.handle.net/10220/6335