Electrical properties of neutron-irradiated silicon and GaAs commercial diodes

Neutron radiation testing was performed on silicon and GaAs diodes to investigate changes in the device parameters after neutron exposure. Californium-252 source was used to irradiate these diodes up to total dose of 1117.87mSv. The effects of nuclear radiation on the forward and reverse current-vol...

Ամբողջական նկարագրություն

Մատենագիտական մանրամասներ
Հիմնական հեղինակներ: Che Omar, Nuurul Iffah, Hasbullah, Nurul Fadzlin, Alang Md Rashid, Nahrul Khair, Abdullah , Jaafar
Ձևաչափ: Proceeding Paper
Լեզու:English
Հրապարակվել է: 2012
Խորագրեր:
Առցանց հասանելիություն:http://irep.iium.edu.my/29528/1/electrical_properties.pdf