Léim chuig an ábhar
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Teanga
Gach réimse
Teideal
Údar
Ábhar
Gairmuimhir
ISBN/ISSN
Clib
AIMSIGH
CASTA
Strain measurement using elect...
Luaigh é seo
Seol mar théacs é seo
Seol é seo mar r-phost
Priontáil
Easpórtáil taifead
Easpórtáil chuig RefWorks
Easpórtáil chuig EndNoteWeb
Easpórtáil chuig EndNote
Buan-nasc
Strain measurement using electron back scatter diffraction
Sonraí bibleagrafaíochta
Príomhchruthaitheoir:
Wilkinson, A
Formáid:
Conference item
Foilsithe / Cruthaithe:
1998
Stoc
Cur síos
Míreanna comhchosúla
Amharc foirne
Míreanna comhchosúla
Measurement of elastic strains and small lattice rotations using electron back scatter diffraction.
de réir: Wilkinson, A
Foilsithe / Cruthaithe: (1996)
Mapping strains at the nanoscale using electron back scatter diffraction
de réir: Wilkinson, A, et al.
Foilsithe / Cruthaithe: (2009)
Measurement of small misorientations using electron back scatter diffraction
de réir: Wilkinson, A
Foilsithe / Cruthaithe: (1999)
Strain tensor mapping at the nanoscale using electron back scatter diffraction
de réir: Wilkinson, A, et al.
Foilsithe / Cruthaithe: (2006)
Assessment of lattice strain, rotation and dislocation content using electron back-scatter diffraction
de réir: Wilkinson, A
Foilsithe / Cruthaithe: (2011)