تخطي إلى المحتوى
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
اللغة
كل الحقول
العنوان
المؤلف
الموضوع
رقم الاستدعاء
ردمك/تدمد
الوسم
ابحث
بحث متقدم
Strain measurement using elect...
استشهد بهذا
أرسل هذا في رسالة قصيرة
أرسل هذا بالبريد الإلكتروني
طباعة
تصدير التسجيلة
تصدير إلى RefWorks
تصدير إلى EndNoteWeb
تصدير إلى EndNote
رابط دائم
Strain measurement using electron back scatter diffraction
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلف الرئيسي:
Wilkinson, A
التنسيق:
Conference item
منشور في:
1998
المقتنيات
الوصف
مواد مشابهة
عرض للأخصائي
الوصف
الملخص:
مواد مشابهة
Measurement of elastic strains and small lattice rotations using electron back scatter diffraction.
حسب: Wilkinson, A
منشور في: (1996)
Mapping strains at the nanoscale using electron back scatter diffraction
حسب: Wilkinson, A, وآخرون
منشور في: (2009)
Measurement of small misorientations using electron back scatter diffraction
حسب: Wilkinson, A
منشور في: (1999)
Strain tensor mapping at the nanoscale using electron back scatter diffraction
حسب: Wilkinson, A, وآخرون
منشور في: (2006)
Assessment of lattice strain, rotation and dislocation content using electron back-scatter diffraction
حسب: Wilkinson, A
منشور في: (2011)