Անցեք բովանդակությանը
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Լեզու
Բոլոր դաշտերը
Վերնագիր
Հեղինակ
Խորագիր
Դասիչ
ISBN/ISSN
Ցուցիչ
Գտեք
Ընդլայնված
Strain measurement using elect...
Վկայակոչեք սա
Գրեք սա
Էլփոստով ուղարկեք սա
Տպել
Արտահանել գրառումը
Արտահանել դեպի RefWorks
Արտահանել դեպի EndNoteWeb
Արտահանել դեպի EndNote
Մշտական հղում
Strain measurement using electron back scatter diffraction
Մատենագիտական մանրամասներ
Հիմնական հեղինակ:
Wilkinson, A
Ձևաչափ:
Conference item
Հրապարակվել է:
1998
Պահումներ
Նկարագրություն
Նմանատիպ նյութեր
Աշխատակազմի տեսք
Նկարագրություն
Ամփոփում:
Նմանատիպ նյութեր
Measurement of elastic strains and small lattice rotations using electron back scatter diffraction.
: Wilkinson, A
Հրապարակվել է: (1996)
Mapping strains at the nanoscale using electron back scatter diffraction
: Wilkinson, A, և այլն
Հրապարակվել է: (2009)
Measurement of small misorientations using electron back scatter diffraction
: Wilkinson, A
Հրապարակվել է: (1999)
Strain tensor mapping at the nanoscale using electron back scatter diffraction
: Wilkinson, A, և այլն
Հրապարակվել է: (2006)
Assessment of lattice strain, rotation and dislocation content using electron back-scatter diffraction
: Wilkinson, A
Հրապարակվել է: (2011)