Przejdź do treści
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Język
Wszystkie pola
Tytuł
Autor
Hasło przedmiotowe
Sygnatura
ISBN / ISSN
Etykieta
Szukaj
Wyszukiwanie zaawansowane
Strain measurement using elect...
Cytować
Wyślij wiadomość
Wyślij emailem
Drukuj
Eksportuj rekord
Eksportuj do RefWorks
Eksportuj do EndNoteWeb
Eksportuj do EndNote
Odnośnik bezpośredni
Strain measurement using electron back scatter diffraction
Opis bibliograficzny
1. autor:
Wilkinson, A
Format:
Conference item
Wydane:
1998
Egzemplarz
Opis
Podobne zapisy
Wersja MARC
Opis
Streszczenie:
Podobne zapisy
Measurement of elastic strains and small lattice rotations using electron back scatter diffraction.
od: Wilkinson, A
Wydane: (1996)
Mapping strains at the nanoscale using electron back scatter diffraction
od: Wilkinson, A, i wsp.
Wydane: (2009)
Measurement of small misorientations using electron back scatter diffraction
od: Wilkinson, A
Wydane: (1999)
Strain tensor mapping at the nanoscale using electron back scatter diffraction
od: Wilkinson, A, i wsp.
Wydane: (2006)
Assessment of lattice strain, rotation and dislocation content using electron back-scatter diffraction
od: Wilkinson, A
Wydane: (2011)