Přeskočit na obsah
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Jazyk
Vše
Název
Autor
Téma
Signatura
ISBN/ISSN
Tag
Hledat
Pokročilé
Strain measurement using elect...
Vytvořit citaci
Zaslat SMS
Poslat e-mailem
Vytisknout
Exportovat záznam
Exportovat do RefWorks
Exportovat do EndNoteWeb
Exportovat do EndNote
Trvalý odkaz
Strain measurement using electron back scatter diffraction
Podrobná bibliografie
Hlavní autor:
Wilkinson, A
Médium:
Conference item
Vydáno:
1998
Jednotky
Popis
Podobné jednotky
UNIMARC/MARC
Podobné jednotky
Measurement of elastic strains and small lattice rotations using electron back scatter diffraction.
Autor: Wilkinson, A
Vydáno: (1996)
Mapping strains at the nanoscale using electron back scatter diffraction
Autor: Wilkinson, A, a další
Vydáno: (2009)
Measurement of small misorientations using electron back scatter diffraction
Autor: Wilkinson, A
Vydáno: (1999)
Strain tensor mapping at the nanoscale using electron back scatter diffraction
Autor: Wilkinson, A, a další
Vydáno: (2006)
Assessment of lattice strain, rotation and dislocation content using electron back-scatter diffraction
Autor: Wilkinson, A
Vydáno: (2011)