Skip to content
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Sprog
Alle Felter
Titel
Forfatter
Fag
Klassifikationsnummer
ISBN/ISSN
Tag
Find
Udvidet
Strain measurement using elect...
Citér dette
Stav dette
Email dette
Udskriv
Eksportér post
Eksportér til RefWorks
Eksportér til EndNoteWeb
Eksportér til EndNote
Permanent link
Esportazione completata correttamente —
Strain measurement using electron back scatter diffraction
Bibliografiske detaljer
Hovedforfatter:
Wilkinson, A
Format:
Conference item
Udgivet:
1998
Beholdninger
Beskrivelse
Lignende værker
Medarbejdervisning
Lignende værker
Mapping strains at the nanoscale using electron back scatter diffraction
af: Wilkinson, A, et al.
Udgivet: (2009)
Measurement of elastic strains and small lattice rotations using electron back scatter diffraction.
af: Wilkinson, A
Udgivet: (1996)
Strain tensor mapping at the nanoscale using electron back scatter diffraction
af: Wilkinson, A, et al.
Udgivet: (2006)
Measurement of small misorientations using electron back scatter diffraction
af: Wilkinson, A
Udgivet: (1999)
Assessment of lattice strain, rotation and dislocation content using electron back-scatter diffraction
af: Wilkinson, A
Udgivet: (2011)