Strain measurement using electron back scatter diffraction
Tác giả chính: | Wilkinson, A |
---|---|
Định dạng: | Conference item |
Được phát hành: |
1998
|
Những quyển sách tương tự
-
Measurement of elastic strains and small lattice rotations using electron back scatter diffraction.
Bằng: Wilkinson, A
Được phát hành: (1996) -
Mapping strains at the nanoscale using electron back scatter diffraction
Bằng: Wilkinson, A, et al.
Được phát hành: (2009) -
Measurement of small misorientations using electron back scatter diffraction
Bằng: Wilkinson, A
Được phát hành: (1999) -
Strain tensor mapping at the nanoscale using electron back scatter diffraction
Bằng: Wilkinson, A, et al.
Được phát hành: (2006) -
Assessment of lattice strain, rotation and dislocation content using electron back-scatter diffraction
Bằng: Wilkinson, A
Được phát hành: (2011)