Anar al contingut
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Idioma
Tots els camps
Títol
Autor
Matèria
Signatura
ISBN/ISSN
Etiqueta
Trobar
Avançada
Strain measurement using elect...
Citar
Enviar aquest missatge de text
Enviar per correu electrònic aquest
Imprimir
Exportar registre
Exportar a RefWorks
Exportar a EndNoteWeb
Exportar a EndNote
Enllaç permanent
Strain measurement using electron back scatter diffraction
Dades bibliogràfiques
Autor principal:
Wilkinson, A
Format:
Conference item
Publicat:
1998
Fons
Descripció
Ítems similars
Visualització del personal
Ítems similars
Mapping strains at the nanoscale using electron back scatter diffraction
per: Wilkinson, A, et al.
Publicat: (2009)
Measurement of elastic strains and small lattice rotations using electron back scatter diffraction.
per: Wilkinson, A
Publicat: (1996)
Strain tensor mapping at the nanoscale using electron back scatter diffraction
per: Wilkinson, A, et al.
Publicat: (2006)
Measurement of small misorientations using electron back scatter diffraction
per: Wilkinson, A
Publicat: (1999)
Assessment of lattice strain, rotation and dislocation content using electron back-scatter diffraction
per: Wilkinson, A
Publicat: (2011)