Skip to content
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Jezik
Vsa polja
Naslov
Avtor
Tema
Signatura
ISBN/ISSN
Oznaka
Išči
Napredno
Strain measurement using elect...
Citiraj
Pošljite SMS
Pošljite email
Natisni
Izvozi zadetek
Izvozi v RefWorks
Izvozi v EndNoteWeb
Izvozi v EndNote
Permanent link
Strain measurement using electron back scatter diffraction
Bibliografske podrobnosti
Glavni avtor:
Wilkinson, A
Format:
Conference item
Izdano:
1998
Zaloga
Opis
Podobne knjige/članki
Knjižničarski pogled
Podobne knjige/članki
Mapping strains at the nanoscale using electron back scatter diffraction
od: Wilkinson, A, et al.
Izdano: (2009)
Measurement of elastic strains and small lattice rotations using electron back scatter diffraction.
od: Wilkinson, A
Izdano: (1996)
Strain tensor mapping at the nanoscale using electron back scatter diffraction
od: Wilkinson, A, et al.
Izdano: (2006)
Measurement of small misorientations using electron back scatter diffraction
od: Wilkinson, A
Izdano: (1999)
Assessment of lattice strain, rotation and dislocation content using electron back-scatter diffraction
od: Wilkinson, A
Izdano: (2011)