Перейти до змісту
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Мова
Всі поля
Назва
Автор
Предмет
Шифр
ISBN/ISSN
Тег
Знайти
Розширений
Strain measurement using elect...
Цитувати
Відправити по sms
Відправити е-поштою
Друк
Експортувати запис
Екпортувати в RefWorks
Екпортувати в EndNoteWeb
Екпортувати в EndNote
Постійне посилання
Strain measurement using electron back scatter diffraction
Бібліографічні деталі
Автор:
Wilkinson, A
Формат:
Conference item
Опубліковано:
1998
Примірники
Опис
Схожі ресурси
Службовий вигляд
Схожі ресурси
Mapping strains at the nanoscale using electron back scatter diffraction
за авторством: Wilkinson, A, та інші
Опубліковано: (2009)
Measurement of elastic strains and small lattice rotations using electron back scatter diffraction.
за авторством: Wilkinson, A
Опубліковано: (1996)
Strain tensor mapping at the nanoscale using electron back scatter diffraction
за авторством: Wilkinson, A, та інші
Опубліковано: (2006)
Measurement of small misorientations using electron back scatter diffraction
за авторством: Wilkinson, A
Опубліковано: (1999)
Assessment of lattice strain, rotation and dislocation content using electron back-scatter diffraction
за авторством: Wilkinson, A
Опубліковано: (2011)