High resolution imaging using the Oxford aberration corrected TEM

Podobné jednotky

• Aberration-corrected HREM/STEM for semiconductor research
  Autor: Hetherington, C, a další
  Vydáno: (2005)
• Experimental evaluation of a spherical aberration-corrected TEM and STEM.
  Autor: Sawada, H, a další
  Vydáno: (2005)
• A versatile double aberration-corrected, energy filtered HREM/STEM for materials science.
  Autor: Hutchison, J, a další
  Vydáno: (2005)
• Prospective applications for a double-C-s-corrector TEM/STEM
  Autor: Mobus, G, a další
  Vydáno: (2001)
• High-resolution TEM and the application of direct and indirect aberration correction.
  Autor: Hetherington, C, a další
  Vydáno: (2008)