Joan edukira
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Hizkuntza
Eremu guztiak
Izenburua
Egilea
Gaia
Sailkapena
ISBN/ISSN
Etiketa
Bilatu
Aurreratua
High resolution imaging using...
Erreferentzia bihurtu
SMS
Bidali
Imprimir
Erregistroa esportatu
Nora RefWorks
Nora EndNoteWeb
Nora EndNote
Permanent link
High resolution imaging using the Oxford aberration corrected TEM
Xehetasun bibliografikoak
Egile Nagusiak:
Hetherington, C
,
Kirkland, A
,
Doole, R
,
Cockayne, D
,
Titchmarsh, J
,
Hutchison, J
Formatua:
Journal article
Hizkuntza:
English
Argitaratua:
2006
Aleari buruzko argibideak
Deskribapena
Antzeko izenburuak
MARC erregistroa
Antzeko izenburuak
Aberration-corrected HREM/STEM for semiconductor research
nork: Hetherington, C, et al.
Argitaratua: (2005)
Experimental evaluation of a spherical aberration-corrected TEM and STEM.
nork: Sawada, H, et al.
Argitaratua: (2005)
A versatile double aberration-corrected, energy filtered HREM/STEM for materials science.
nork: Hutchison, J, et al.
Argitaratua: (2005)
Prospective applications for a double-C-s-corrector TEM/STEM
nork: Mobus, G, et al.
Argitaratua: (2001)
High-resolution TEM and the application of direct and indirect aberration correction.
nork: Hetherington, C, et al.
Argitaratua: (2008)