Skip to content
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
שפה
כל השדות
כותר
מחבר
נושא
סימן המיקום
ISBN/ISSN
תג
מצא
מתקדם
High resolution imaging using...
יצירת מראה מקום
שליחה במסרון
שלח את זה
הדפסה
יצוא רשומה
יצוא אל RefWorks
יצוא אל EndNoteWeb
יצוא אל EndNote
Permanent link
High resolution imaging using the Oxford aberration corrected TEM
מידע ביבליוגרפי
Main Authors:
Hetherington, C
,
Kirkland, A
,
Doole, R
,
Cockayne, D
,
Titchmarsh, J
,
Hutchison, J
פורמט:
Journal article
שפה:
English
יצא לאור:
2006
מלאי ספרים
תיאור
פריטים דומים
תצוגת צוות
פריטים דומים
Aberration-corrected HREM/STEM for semiconductor research
מאת: Hetherington, C, et al.
יצא לאור: (2005)
Experimental evaluation of a spherical aberration-corrected TEM and STEM.
מאת: Sawada, H, et al.
יצא לאור: (2005)
A versatile double aberration-corrected, energy filtered HREM/STEM for materials science.
מאת: Hutchison, J, et al.
יצא לאור: (2005)
Prospective applications for a double-C-s-corrector TEM/STEM
מאת: Mobus, G, et al.
יצא לאור: (2001)
High-resolution TEM and the application of direct and indirect aberration correction.
מאת: Hetherington, C, et al.
יצא לאור: (2008)