Пропуск в контексте
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Язык
Все поля
Заглавие
Автор
Предмет
Шифр
ISBN/ISSN
Метка
Найти
Расширенный поиск
High resolution imaging using...
Цитировать
Отправить по sms
Отправить на Email
Печать
Запись для экспорта
Экспорт в RefWorks
Экспорт в EndNoteWeb
Экспорт в EndNote
Постоянная ссылка
High resolution imaging using the Oxford aberration corrected TEM
Библиографические подробности
Главные авторы:
Hetherington, C
,
Kirkland, A
,
Doole, R
,
Cockayne, D
,
Titchmarsh, J
,
Hutchison, J
Формат:
Journal article
Язык:
English
Опубликовано:
2006
Фонды
Описание
Схожие документы
Marc-запись
Схожие документы
Aberration-corrected HREM/STEM for semiconductor research
по: Hetherington, C, и др.
Опубликовано: (2005)
Experimental evaluation of a spherical aberration-corrected TEM and STEM.
по: Sawada, H, и др.
Опубликовано: (2005)
A versatile double aberration-corrected, energy filtered HREM/STEM for materials science.
по: Hutchison, J, и др.
Опубликовано: (2005)
Prospective applications for a double-C-s-corrector TEM/STEM
по: Mobus, G, и др.
Опубликовано: (2001)
High-resolution TEM and the application of direct and indirect aberration correction.
по: Hetherington, C, и др.
Опубликовано: (2008)