İçeriği atla
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Dil
Tüm Alanlar
Materyal Adı
Yazar
Konu
Yer Numarası
ISBN/ISSN
Etiket
Ara
Gelişmiş
High resolution imaging using...
Alıntıla
Telefona gönder
E-posta Gönder
Yazdır
Kaydı İhraç Et
İhraç Et RefWorks
İhraç Et EndNoteWeb
İhraç Et EndNote
Kalıcı bağlantı
High resolution imaging using the Oxford aberration corrected TEM
Detaylı Bibliyografya
Asıl Yazarlar:
Hetherington, C
,
Kirkland, A
,
Doole, R
,
Cockayne, D
,
Titchmarsh, J
,
Hutchison, J
Materyal Türü:
Journal article
Dil:
English
Baskı/Yayın Bilgisi:
2006
Erişim Bilgileri
Diğer Bilgiler
Benzer Materyaller
MARC Görünümü
Benzer Materyaller
Aberration-corrected HREM/STEM for semiconductor research
Yazar:: Hetherington, C, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2005)
Experimental evaluation of a spherical aberration-corrected TEM and STEM.
Yazar:: Sawada, H, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2005)
A versatile double aberration-corrected, energy filtered HREM/STEM for materials science.
Yazar:: Hutchison, J, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2005)
Prospective applications for a double-C-s-corrector TEM/STEM
Yazar:: Mobus, G, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2001)
High-resolution TEM and the application of direct and indirect aberration correction.
Yazar:: Hetherington, C, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2008)