Microstructural investigation of Cu/Co multilayer films

Microstructural investigation of Cu/Co multilayer films

Multilayer film structures, with applications based on the giant-magnetoresistance principle, comprise an exciting area of research and have the capability to improve the storage density and sensitivity of devices used by the magnetic recording industry. In order to optimise the performance of these...

Mô tả đầy đủ

Chi tiết về thư mục
Những tác giả chính:	Larson, D, Petford-Long, A, Cerezo, A
Định dạng:	Conference item
Được phát hành:	1999

Những quyển sách tương tự

Three-dimensional atom probe field-ion microscopy observation of Cu/Co multilayer film structures
Bằng: Larson, D, et al.
Được phát hành: (1998)

Focused ion-beam specimen preparation for atom probe field-ion microscopy characterization of multilayer film structures
Bằng: Larson, D, et al.
Được phát hành: (1999)

Atom probe analysis of roughness and chemical intermixing in CoFe/Cu films (invited)
Bằng: Larson, D, et al.
Được phát hành: (2001)

Three-dimensional atom probe studies of metallic multilayers
Bằng: Larson, D, et al.
Được phát hành: (1999)

Atomic-scale analysis of CoFe/Cu and CoFe/NiFe interfaces
Bằng: Larson, D, et al.
Được phát hành: (2000)

Interfacial diffusion studies in Co-Pd layered films
Bằng: Baker, A, et al.
Được phát hành: (1996)

Magnetoresistance effect of Cu/Cu-Co hybrid multilayer films
Bằng: Shaari, Abdul Halim, et al.
Được phát hành: (2004)

Atom-Probe Tomographic Studies of Thin Films and Multilayers
Bằng: Larson, D, et al.
Được phát hành: (2009)

Atomic scale structure of sputtered metal multilayers
Bằng: Zhou, X, et al.
Được phát hành: (2001)

Three-dimensional atom probe investigation of boron distribution in CoFeB/MgO/CoFeB magnetic tunnel junctions
Bằng: Pinitsoontorn, S, et al.
Được phát hành: (2008)

Mechanisms by which oxygen acts as a surfactant in giant magnetoresistance film growth
Bằng: Larson, D, et al.
Được phát hành: (2003)

Focused ion-beam milling for field-ion specimen preparation: preliminary investigations
Bằng: Larson, D, et al.
Được phát hành: (1998)

Information storage materials: nanoscale characterisation by three-dimensional atom probe analysis
Bằng: Larson, D, et al.
Được phát hành: (2004)

Improvement of multilayer analyses with a three-dimensional atom probe
Bằng: Vurpillot, F, et al.
Được phát hành: (2004)

High-throughput investigation of structural evolution upon solid-state in Cu–Cr–Co combinatorial multilayer thin-film
Bằng: Jian Hui, et al.
Được phát hành: (2022-03-01)

The role of atomic scale investigation in the development of nanoscale materials for information storage applications.
Bằng: Petford-Long, A, et al.
Được phát hành: (2004)

Microstructure, Mechanical and Tribological Properties of Nanocomposite Multilayer Films
Bằng: Qi, Z.Q., et al.
Được phát hành: (2004-10-01)

The formation mechanism of aluminium oxide tunnel barriers
Bằng: Cerezo, A, et al.
Được phát hành: (2006)

Fabrication of electrodeposited Ni-Cu/Cu multilayered films and study of their nanostructures before and after annealing
Bằng: I Kazeminezhad, et al.
Được phát hành: (2008-07-01)

Corrosion properties of electrodeposited Cu/Co multilayers
Bằng: M. Spilka, et al.
Được phát hành: (2021-01-01)

Oscillatory interlayer coupling and giant magnetoresistance in co/cu multilayers /
Bằng: 348320 Mosca, D. H., et al.

The development of information storage materials - How microscopy can help?
Bằng: Petford-Long, A, et al.
Được phát hành: (2002)

ATOM PROBE CHARACTERIZATION OF CO TRANSITION-METAL MULTILAYER STRUCTURES
Bằng: Cerezo, A, et al.
Được phát hành: (1989)

Study on microstructure evolution and fracture behavior of Al/Al/Cu multilayer composites
Bằng: Zhiqiang Lei, et al.
Được phát hành: (2023-07-01)

Microstructure and mechanical properties of a CrCN/Cr multilayer film
Bằng: Eryong Liu, et al.
Được phát hành: (2020-01-01)

The effect of the graded bilayer design on the strain depth profiles and microstructure of Cu/W nano-multilayers
Bằng: A.V. Druzhinin, et al.
Được phát hành: (2021-11-01)

Investigation of multilayer thin films using ellipsometry
Bằng: Tikkiwal Vinay Anand.
Được phát hành: (2013)

Investigation of multilayer thin films using ellipsometry
Bằng: He, Lining.
Được phát hành: (2009)

A review on microstructures and mechanical properties of protective nano-multilayered films or coatings
Bằng: Wenjie Cheng, et al.
Được phát hành: (2023-11-01)

The formation mechanism of aluminum oxide tunnel barriers: Three-dimensional atom probe analysis
Bằng: Petford-Long, A, et al.
Được phát hành: (2005)

Intermodulation Distortion in Epitaxial Y-Ba-Cu-O Thick Films and Multilayers
Bằng: Oates, Daniel E., et al.
Được phát hành: (2010)

Modulation period dependent mechanical properties of Cu/Fe metallic multilayered films
Bằng: Fengshan Gao, et al.
Được phát hành: (2018-04-01)

Giant magnetoresistance in different multilayer system of CoCu and Co/Ag systems /
Bằng: 318274 Mussak Datulaqma Md. Mustam, et al.
Được phát hành: (2006)

The effect of interfacial regions on the giant magnetoresistance in as-grown and annealed Fe/Cr MLFs
Bằng: Ho, E, et al.
Được phát hành: (1999)

Fabrication, microstructure, and thermal conductivity of multilayered Cu mesh/AZ31 Mg foil composites
Bằng: Fanjin Yao, et al.
Được phát hành: (2021-09-01)

The structure of sputter-deposited Co2MnSi thin films deposited on GaAs(001)
Bằng: Kohn, A, et al.
Được phát hành: (2007)

THE EFFECTS OF ANNEALING ON MAGNETIC DOMAIN-STRUCTURE AND INTERFACE PROFILE IN SPUTTERED FE/CR MULTILAYER FILMS
Bằng: Petfordlong, A, et al.
Được phát hành: (1993)

Microstructure and magnetism of Ga+-irradiated IrMn-based spin-valve multilayered film
Bằng: Xianjin Qi, et al.
Được phát hành: (2020-11-01)

Large morphological sensitivity of the magneto-thermopower in Co/Cu multilayered systems
Bằng: Voicu Popescu, et al.
Được phát hành: (2015-01-01)

Investigation of the microstructure and properties of W75-Cu/W55-Cu brazed joint with Cu-Mn-Co filler metal
Bằng: Zhou Yi, et al.
Được phát hành: (2018-01-01)