Skip to content
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Sprog
Alle Felter
Titel
Forfatter
Fag
Klassifikationsnummer
ISBN/ISSN
Tag
Find
Udvidet
AN INVESTIGATION OF A RAPIDLY...
Citér dette
Stav dette
Email dette
Udskriv
Eksportér post
Eksportér til RefWorks
Eksportér til EndNoteWeb
Eksportér til EndNote
Permanent link
AN INVESTIGATION OF A RAPIDLY SOLIDIFIED AL-CR ALLOY USING FIELD-ION MICROSCOPY ATOM PROBE ANALYSIS AND HIGH-RESOLUTION ELECTRON-MICROSCOPY
Bibliografiske detaljer
Main Authors:
Shollock, B
,
Cerezo, A
,
Boyes, E
,
Cantor, B
,
Smith, G
Format:
Journal article
Udgivet:
1988
Beholdninger
Beskrivelse
Lignende værker
Medarbejdervisning
Lignende værker
ULTRA-HIGH-RESOLUTION CHEMICAL-ANALYSIS BY FIELD-ION MICROSCOPY, ATOM PROBE AND POSITION-SENSITIVE ATOM-PROBE TECHNIQUES
af: Grovenor, C, et al.
Udgivet: (1992)
A FIM/AP INVESTIGATION OF A RAPIDLY SOLIDIFIED ALUMINIUM-CHROMIUM ALLOY
af: Cerezo, A, et al.
Udgivet: (1987)
FIELD-ION MICROSCOPY AND ATOM PROBE MICROANALYSIS OF SEMICONDUCTOR-MATERIALS
af: Grovenor, C, et al.
Udgivet: (1983)
Origin of the spatial resolution in atom probe microscopy
af: Gault, B, et al.
Udgivet: (2009)
FIELD-ION MICROSCOPY AND ATOM PROBE MICROANALYSIS OF VANADIUM
af: Godfrey, T, et al.
Udgivet: (1989)