AN INVESTIGATION OF A RAPIDLY SOLIDIFIED AL-CR ALLOY USING FIELD-ION MICROSCOPY ATOM PROBE ANALYSIS AND HIGH-RESOLUTION ELECTRON-MICROSCOPY

Схожі ресурси

• ULTRA-HIGH-RESOLUTION CHEMICAL-ANALYSIS BY FIELD-ION MICROSCOPY, ATOM PROBE AND POSITION-SENSITIVE ATOM-PROBE TECHNIQUES
  за авторством: Grovenor, C, та інші
  Опубліковано: (1992)
• A FIM/AP INVESTIGATION OF A RAPIDLY SOLIDIFIED ALUMINIUM-CHROMIUM ALLOY
  за авторством: Cerezo, A, та інші
  Опубліковано: (1987)
• FIELD-ION MICROSCOPY AND ATOM PROBE MICROANALYSIS OF SEMICONDUCTOR-MATERIALS
  за авторством: Grovenor, C, та інші
  Опубліковано: (1983)
• FIELD-ION MICROSCOPY AND ATOM PROBE MICROANALYSIS OF VANADIUM
  за авторством: Godfrey, T, та інші
  Опубліковано: (1989)
• Field ion microscopy and 3-D atom probe analysis of Al3Zr particles in 7050 Al alloy.
  за авторством: Sha, G, та інші
  Опубліковано: (2005)