Direct imaging of rotational stacking faults in few layer graphene
Few layer graphene nanostructures are directiy imaged using aberration corrected high-resolution transmission electron microscopy with an electron accelerating voltage of 80 kV. We observe rotational stacking faults in the HRTEM images of 2-6 layers of graphene sheets, giving rise to Moiré patterns....
Автори: | Warner, J, Rümmeli, M, Gemming, T, Büchner, B, Briggs, G |
---|---|
Формат: | Journal article |
Мова: | English |
Опубліковано: |
2009
|
Схожі ресурси
Схожі ресурси
-
Direct imaging of rotational stacking faults in few layer graphene.
за авторством: Warner, J, та інші
Опубліковано: (2009) -
Structural distortions in few-layer graphene creases.
за авторством: Robertson, A, та інші
Опубліковано: (2011) -
Atomic structure of interconnected few-layer graphene domains.
за авторством: Robertson, A, та інші
Опубліковано: (2011) -
Atomic resolution imaging of the edges of catalytically etched suspended few-layer graphene.
за авторством: Schäffel, F, та інші
Опубліковано: (2011) -
Atomic resolution imaging of the edges of catalytically etched suspended few-layer graphene
за авторством: Schäffel, F, та інші
Опубліковано: (2011)