Léim chuig an ábhar
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Teanga
Gach réimse
Teideal
Údar
Ábhar
Gairmuimhir
ISBN/ISSN
Clib
AIMSIGH
CASTA
PULSED LASER ATOM PROBE CHARAC...
Luaigh é seo
Seol mar théacs é seo
Seol é seo mar r-phost
Priontáil
Easpórtáil taifead
Easpórtáil chuig RefWorks
Easpórtáil chuig EndNoteWeb
Easpórtáil chuig EndNote
Buan-nasc
PULSED LASER ATOM PROBE CHARACTERIZATION OF SILICON-CARBIDE
Sonraí bibleagrafaíochta
Príomhchruthaitheoirí:
Miller, M
,
Angelini, P
,
Cerezo, A
,
More, K
Formáid:
Journal article
Foilsithe / Cruthaithe:
1989
Stoc
Cur síos
Míreanna comhchosúla
Amharc foirne
Míreanna comhchosúla
THE EFFECT OF LASER-PULSE SHAPE ON MASS RESOLUTION IN THE PULSED-LASER ATOM PROBE
de réir: Cerezo, A, et al.
Foilsithe / Cruthaithe: (1987)
Nanoscale characterization of compound semiconductors using laser-pulsed atom probe tomography
de réir: Muller, M, et al.
Foilsithe / Cruthaithe: (2010)
Nanoscale characterization of compound semiconductors using laser-pulsed atom probe tomography
de réir: Müller, M, et al.
Foilsithe / Cruthaithe: (2010)
PULSED LASER ATOM PROBE ANALYSIS OF GAAS AND INAS
de réir: Cerezo, A, et al.
Foilsithe / Cruthaithe: (1985)
PULSED LASER ATOM PROBE ANALYSIS OF SEMICONDUCTOR-MATERIALS
de réir: Cerezo, A, et al.
Foilsithe / Cruthaithe: (1986)