বিষয়বস্তু এড়িয়ে যান
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
ভাষা
সমস্ত ক্ষেত্রসমূহ
আখ্যা
লেখক
বিষয়
ডাক সংখ্যা
আইসবিএন/আইএসএসএন
ট্যাগ
অনুসন্ধান
বিস্তৃত
Assessment of lattice strain,...
সাইট করুন
এই পাঠটি
এই ই-মেইলটি
মুদ্রণ
নথি এক্সপোর্ট করুন
এক্সপোর্ট করুন RefWorks
এক্সপোর্ট করুন EndNoteWeb
এক্সপোর্ট করুন EndNote
স্থায়ী লিঙ্ক
Assessment of lattice strain, rotation and dislocation content using electron back-scatter diffraction
অন্যান্য সংস্করণ প্রদর্শন করুন (1)
গ্রন্থ-পঞ্জীর বিবরন
প্রধান লেখক:
Wilkinson, A
,
IOP
বিন্যাস:
Conference item
প্রকাশিত:
2011
হোল্ডিংস
বিবরন
অন্যান্য সংস্করণ (1)
অনুরূপ উপাদানগুলি
স্টাফেদের বিবরণ দেখুন
অনুরূপ উপাদানগুলি
Assessment of lattice strain, rotation and dislocation content using electron back-scatter diffraction
অনুযায়ী: Wilkinson, A
প্রকাশিত: (2011)
Measurement of elastic strains and small lattice rotations using electron back scatter diffraction.
অনুযায়ী: Wilkinson, A
প্রকাশিত: (1996)
Strain measurement using electron back scatter diffraction
অনুযায়ী: Wilkinson, A
প্রকাশিত: (1998)
Determination of elastic strain fields and geometrically necessary dislocation distributions near nanoindents using electron back scatter diffraction
অনুযায়ী: Wilkinson, A, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2010)
Mapping strains at the nanoscale using electron back scatter diffraction
অনুযায়ী: Wilkinson, A, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2009)