Μετάβαση στο περιεχόμενο
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Γλώσσα
Όλα τα πεδία
Τίτλος
Συγγραφέας
Θέμα
Ταξιθετικός Αριθμός
ISBN/ISSN
Ετικέτα
Αναζήτηση
Σύνθετη
Assessment of lattice strain,...
Εμφάνιση παραπομπής
Αποστολή με SMS
Αποστολή με email
Εκτύπωση
Αποθήκευση
Αποθήκευση σε RefWorks
Αποθήκευση σε EndNoteWeb
Αποθήκευση σε EndNote
Μόνιμος σύνδεσμος
Assessment of lattice strain, rotation and dislocation content using electron back-scatter diffraction
Εμφάνιση άλλων εκδόσεων (1)
Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριοι συγγραφείς:
Wilkinson, A
,
IOP
Μορφή:
Conference item
Έκδοση:
2011
Τεκμήρια
Περιγραφή
Άλλες εκδόσεις (1)
Παρόμοια τεκμήρια
Λεπτομερής προβολή
Παρόμοια τεκμήρια
Assessment of lattice strain, rotation and dislocation content using electron back-scatter diffraction
ανά: Wilkinson, A
Έκδοση: (2011)
Measurement of elastic strains and small lattice rotations using electron back scatter diffraction.
ανά: Wilkinson, A
Έκδοση: (1996)
Strain measurement using electron back scatter diffraction
ανά: Wilkinson, A
Έκδοση: (1998)
Determination of elastic strain fields and geometrically necessary dislocation distributions near nanoindents using electron back scatter diffraction
ανά: Wilkinson, A, κ.ά.
Έκδοση: (2010)
Mapping strains at the nanoscale using electron back scatter diffraction
ανά: Wilkinson, A, κ.ά.
Έκδοση: (2009)