Ga door naar de inhoud
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Taal
Alle velden
Titel
Auteur
Onderwerp
Plaatsingsnummer
ISBN/ISSN
Tag
Zoek
Geavanceerd
Assessment of lattice strain,...
Citeren
SMS dit
Versturen
Afdrukken
Exporteer Record
Exporteer naar RefWorks
Exporteer naar EndNoteWeb
Exporteer naar EndNote
Permalink
Assessment of lattice strain, rotation and dislocation content using electron back-scatter diffraction
Toon andere (1) versies
Bibliografische gegevens
Hoofdauteurs:
Wilkinson, A
,
IOP
Formaat:
Conference item
Gepubliceerd in:
2011
Exemplaren
Omschrijving
Andere (1) versies
Gelijkaardige items
Personeel
Gelijkaardige items
Assessment of lattice strain, rotation and dislocation content using electron back-scatter diffraction
door: Wilkinson, A
Gepubliceerd in: (2011)
Measurement of elastic strains and small lattice rotations using electron back scatter diffraction.
door: Wilkinson, A
Gepubliceerd in: (1996)
Strain measurement using electron back scatter diffraction
door: Wilkinson, A
Gepubliceerd in: (1998)
Determination of elastic strain fields and geometrically necessary dislocation distributions near nanoindents using electron back scatter diffraction
door: Wilkinson, A, et al.
Gepubliceerd in: (2010)
Mapping strains at the nanoscale using electron back scatter diffraction
door: Wilkinson, A, et al.
Gepubliceerd in: (2009)