Chuyển đến nội dung
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Ngôn ngữ
Tất cả các trường
Tiêu đề
Tác giả
Chủ đề
Số hiệu
số ISBN/ISSN
Nhãn
Tìm kiếm
Nâng cao
Assessment of lattice strain,...
Trích dẫn điều này
Văn bản này
Email này
In
Xuất bản ghi
Xuất tới RefWorks
Xuất tới EndNoteWeb
Xuất tới EndNote
Liên kết dài hạn
Assessment of lattice strain, rotation and dislocation content using electron back-scatter diffraction
Hiển thị phiên bản (1) khác
Chi tiết về thư mục
Những tác giả chính:
Wilkinson, A
,
IOP
Định dạng:
Conference item
Được phát hành:
2011
Đang giữ
Miêu tả
Phiên bản (1) khác
Những quyển sách tương tự
Chế độ xem nhân viên
Những quyển sách tương tự
Assessment of lattice strain, rotation and dislocation content using electron back-scatter diffraction
Bằng: Wilkinson, A
Được phát hành: (2011)
Measurement of elastic strains and small lattice rotations using electron back scatter diffraction.
Bằng: Wilkinson, A
Được phát hành: (1996)
Strain measurement using electron back scatter diffraction
Bằng: Wilkinson, A
Được phát hành: (1998)
Determination of elastic strain fields and geometrically necessary dislocation distributions near nanoindents using electron back scatter diffraction
Bằng: Wilkinson, A, et al.
Được phát hành: (2010)
Mapping strains at the nanoscale using electron back scatter diffraction
Bằng: Wilkinson, A, et al.
Được phát hành: (2009)