Ga door naar de inhoud
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Taal
Alle velden
Titel
Auteur
Onderwerp
Plaatsingsnummer
ISBN/ISSN
Tag
Zoek
Geavanceerd
Progress in the atomic-scale a...
Citeren
SMS dit
Versturen
Afdrukken
Exporteer Record
Exporteer naar RefWorks
Exporteer naar EndNoteWeb
Exporteer naar EndNote
Permalink
Progress in the atomic-scale analysis of materials with the three-dimensional atom probe
Bibliografische gegevens
Hoofdauteurs:
Cerezo, A
,
Larson, D
,
Smith, G
Formaat:
Journal article
Gepubliceerd in:
2001
Exemplaren
Omschrijving
Gelijkaardige items
Personeel
Omschrijving
Samenvatting:
Gelijkaardige items
Three-dimensional atom probe studies of metallic multilayers
door: Larson, D, et al.
Gepubliceerd in: (1999)
Three-dimensional atomic scale analysis of nanostructured materials
door: Cerezo, A, et al.
Gepubliceerd in: (2001)
Some recent advances in three dimensional atomic scale microanalysis with the atom probe (invited)
door: Cerezo, A, et al.
Gepubliceerd in: (1994)
Information storage materials: nanoscale characterisation by three-dimensional atom probe analysis
door: Larson, D, et al.
Gepubliceerd in: (2004)
Improvement of multilayer analyses with a three-dimensional atom probe
door: Vurpillot, F, et al.
Gepubliceerd in: (2004)