İçeriği atla
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Dil
Tüm Alanlar
Materyal Adı
Yazar
Konu
Yer Numarası
ISBN/ISSN
Etiket
Ara
Gelişmiş
Progress in the atomic-scale a...
Alıntıla
Telefona gönder
E-posta Gönder
Yazdır
Kaydı İhraç Et
İhraç Et RefWorks
İhraç Et EndNoteWeb
İhraç Et EndNote
Kalıcı bağlantı
Progress in the atomic-scale analysis of materials with the three-dimensional atom probe
Detaylı Bibliyografya
Asıl Yazarlar:
Cerezo, A
,
Larson, D
,
Smith, G
Materyal Türü:
Journal article
Baskı/Yayın Bilgisi:
2001
Erişim Bilgileri
Diğer Bilgiler
Benzer Materyaller
MARC Görünümü
Diğer Bilgiler
Özet:
Benzer Materyaller
Three-dimensional atom probe studies of metallic multilayers
Yazar:: Larson, D, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (1999)
Three-dimensional atomic scale analysis of nanostructured materials
Yazar:: Cerezo, A, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2001)
Some recent advances in three dimensional atomic scale microanalysis with the atom probe (invited)
Yazar:: Cerezo, A, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (1994)
Information storage materials: nanoscale characterisation by three-dimensional atom probe analysis
Yazar:: Larson, D, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2004)
Improvement of multilayer analyses with a three-dimensional atom probe
Yazar:: Vurpillot, F, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2004)