Joan edukira
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Hizkuntza
Eremu guztiak
Izenburua
Egilea
Gaia
Sailkapena
ISBN/ISSN
Etiketa
Bilatu
Aurreratua
Progress in the atomic-scale a...
Erreferentzia bihurtu
SMS
Bidali
Imprimir
Erregistroa esportatu
Nora RefWorks
Nora EndNoteWeb
Nora EndNote
Permanent link
Progress in the atomic-scale analysis of materials with the three-dimensional atom probe
Xehetasun bibliografikoak
Egile Nagusiak:
Cerezo, A
,
Larson, D
,
Smith, G
Formatua:
Journal article
Argitaratua:
2001
Aleari buruzko argibideak
Deskribapena
Antzeko izenburuak
MARC erregistroa
Deskribapena
Gaia:
Antzeko izenburuak
Three-dimensional atom probe studies of metallic multilayers
nork: Larson, D, et al.
Argitaratua: (1999)
Three-dimensional atomic scale analysis of nanostructured materials
nork: Cerezo, A, et al.
Argitaratua: (2001)
Some recent advances in three dimensional atomic scale microanalysis with the atom probe (invited)
nork: Cerezo, A, et al.
Argitaratua: (1994)
Information storage materials: nanoscale characterisation by three-dimensional atom probe analysis
nork: Larson, D, et al.
Argitaratua: (2004)
Improvement of multilayer analyses with a three-dimensional atom probe
nork: Vurpillot, F, et al.
Argitaratua: (2004)