Progress in the atomic-scale analysis of materials with the three-dimensional atom probe

Progress in the atomic-scale analysis of materials with the three-dimensional atom probe

Бібліографічні деталі
Автори:	Cerezo, A, Larson, D, Smith, G
Формат:	Journal article
Опубліковано:	2001

Схожі ресурси

Three-dimensional atom probe studies of metallic multilayers
за авторством: Larson, D, та інші
Опубліковано: (1999)

Three-dimensional atomic scale analysis of nanostructured materials
за авторством: Cerezo, A, та інші
Опубліковано: (2001)

Some recent advances in three dimensional atomic scale microanalysis with the atom probe (invited)
за авторством: Cerezo, A, та інші
Опубліковано: (1994)

Information storage materials: nanoscale characterisation by three-dimensional atom probe analysis
за авторством: Larson, D, та інші
Опубліковано: (2004)

Improvement of multilayer analyses with a three-dimensional atom probe
за авторством: Vurpillot, F, та інші
Опубліковано: (2004)

Three-dimensional atomic scale analysis of interfaces
за авторством: Cerezo, A, та інші
Опубліковано: (1999)

Overview: Recent progress in three-dimensional atom probe instruments and applications
за авторством: Cerezo, A, та інші
Опубліковано: (2007)

Overview: recent progress in three-dimensional atom probe instruments and applications.
за авторством: Cerezo, A, та інші
Опубліковано: (2007)

Improvements in the mass resolution of the three-dimensional atom probe
за авторством: Sijbrandij, S, та інші
Опубліковано: (1996)

Performance of an energy-compensated three-dimensional atom probe
за авторством: Cerezo, A, та інші
Опубліковано: (1998)

Applications of a high-resolution three dimensional atom probe
за авторством: Smith, G, та інші
Опубліковано: (1997)

Materials applications of an advanced 3-dimensional atom probe
за авторством: Cerezo, A, та інші
Опубліковано: (1996)

Studies of boundaries and interfaces on the atomic scale by atom probe FIM
за авторством: Smith, G, та інші
Опубліковано: (1998)

The formation mechanism of aluminum oxide tunnel barriers: Three-dimensional atom probe analysis
за авторством: Petford-Long, A, та інші
Опубліковано: (2005)

Measurement of temperature rises in the femtosecond laser pulsed three-dimensional atom probe
за авторством: Cerezo, A, та інші
Опубліковано: (2006)

Measurement of temperature rises in the femtosecond laser pulsed three-dimensional atom probe
за авторством: Cerezo, A, та інші
Опубліковано: (2006)

Three-dimensional atom probe field-ion microscopy observation of Cu/Co multilayer film structures
за авторством: Larson, D, та інші
Опубліковано: (1998)

PULSED LASER ATOM PROBE ANALYSIS OF SEMICONDUCTOR-MATERIALS
за авторством: Cerezo, A, та інші
Опубліковано: (1986)

IMPROVEMENTS IN 3-DIMENSIONAL ATOM-PROBE DESIGN
за авторством: Cerezo, A, та інші
Опубліковано: (1994)

PULSED LASER ATOM PROBE ANALYSIS OF SEMICONDUCTOR-MATERIALS
за авторством: Grovenor, C, та інші
Опубліковано: (1987)

Automobile exhaust catalysis at the atomic scale: atom-probe investigations on platinum alloys
за авторством: Bagot, P, та інші
Опубліковано: (2007)

VISUALIZATION AND ANALYSIS OF 3-DIMENSIONAL ATOM PROBE DATA
за авторством: Cerezo, A, та інші
Опубліковано: (1989)

FIELD-ION MICROSCOPY AND ATOM PROBE MICROANALYSIS OF SEMICONDUCTOR-MATERIALS
за авторством: Grovenor, C, та інші
Опубліковано: (1983)

A procedure for quantification of precipitate microstructures from three-dimensional atom probe data.
за авторством: Vaumousse, D, та інші
Опубліковано: (2003)

Aspects of the observation of clusters in the 3-dimensional atom probe
за авторством: Cerezo, A, та інші
Опубліковано: (2007)

MATERIALS ANALYSIS WITH A POSITION-SENSITIVE ATOM PROBE
за авторством: Cerezo, A, та інші
Опубліковано: (1989)

STATISTICAL-ANALYSIS OF ATOM PROBE DATA
за авторством: Hetherington, M, та інші
Опубліковано: (1986)

THE POSITION-SENSITIVE ATOM PROBE - RECONSTRUCTION OF THE ATOMIC CHEMISTRY OF SOLIDS IN 3-DIMENSIONS (SUMMARY)
за авторством: Cerezo, A, та інші
Опубліковано: (1991)

STRUCTURAL-ANALYSIS WITH THE POSITION-SENSITIVE ATOM PROBE
за авторством: Hetherington, M, та інші
Опубліковано: (1992)

LATERAL AND DEPTH SCALE CALIBRATION OF THE POSITION-SENSITIVE ATOM-PROBE
за авторством: Hyde, J, та інші
Опубліковано: (1994)

Three-dimensional atomic-scale mapping of a cottrell atmosphere around a dislocation in iron
за авторством: Wilde, J, та інші
Опубліковано: (2000)

PULSED LASER ATOM PROBE ANALYSIS OF GAAS AND INAS
за авторством: Cerezo, A, та інші
Опубліковано: (1985)

NEW DIMENSIONS IN ATOM-PROBE ANALYSIS
за авторством: Cerezo, A, та інші
Опубліковано: (1992)

A UK Facility for Atom Probe Tomography Analysis
за авторством: Marquis, E, та інші
Опубліковано: (2009)

Three-dimensional atom probe characterization of alloy element partitioning in cementite during tempering of alloy steel.
за авторством: Zhu, C, та інші
Опубліковано: (2007)

Aspects of the performance of a femtosecond laser-pulsed 3-dimensional atom probe.
за авторством: Cerezo, A, та інші
Опубліковано: (2007)

ANALYSIS OF DATA FROM AN OPTICAL ATOM-PROBE
за авторством: Cooper, A, та інші
Опубліковано: (1994)

SURFACE-ANALYSIS WITH A POSITION-SENSITIVE ATOM PROBE
за авторством: Cerezo, A, та інші
Опубліковано: (1989)

Atom-Probe Tomographic Studies of Thin Films and Multilayers
за авторством: Larson, D, та інші
Опубліковано: (2009)

Three-dimensional atomic mapping of ligands on palladium nanoparticles by atom probe tomography
за авторством: Kyuseon Jang, та інші
Опубліковано: (2021-07-01)