تخطي إلى المحتوى
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
اللغة
كل الحقول
العنوان
المؤلف
الموضوع
رقم الاستدعاء
ردمك/تدمد
الوسم
ابحث
بحث متقدم
Progress in the atomic-scale a...
استشهد بهذا
أرسل هذا في رسالة قصيرة
أرسل هذا بالبريد الإلكتروني
طباعة
تصدير التسجيلة
تصدير إلى RefWorks
تصدير إلى EndNoteWeb
تصدير إلى EndNote
رابط دائم
Progress in the atomic-scale analysis of materials with the three-dimensional atom probe
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلفون الرئيسيون:
Cerezo, A
,
Larson, D
,
Smith, G
التنسيق:
Journal article
منشور في:
2001
المقتنيات
الوصف
مواد مشابهة
عرض للأخصائي
مواد مشابهة
Three-dimensional atom probe studies of metallic multilayers
حسب: Larson, D, وآخرون
منشور في: (1999)
Three-dimensional atomic scale analysis of nanostructured materials
حسب: Cerezo, A, وآخرون
منشور في: (2001)
Some recent advances in three dimensional atomic scale microanalysis with the atom probe (invited)
حسب: Cerezo, A, وآخرون
منشور في: (1994)
Information storage materials: nanoscale characterisation by three-dimensional atom probe analysis
حسب: Larson, D, وآخرون
منشور في: (2004)
Improvement of multilayer analyses with a three-dimensional atom probe
حسب: Vurpillot, F, وآخرون
منشور في: (2004)