Saltar al contenido
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Lenguaje
Todos los Campos
Título
Autor
Materia
Número de Clasificación
ISBN/ISSN
Etiqueta
Buscar
Avanzado
Progress in the atomic-scale a...
Citar
Describir
Enviar este por Correo electrónico
Imprimir
Exportar Registro
Exportar a RefWorks
Exportar a EndNoteWeb
Exportar a EndNote
Enlace Permanente
Progress in the atomic-scale analysis of materials with the three-dimensional atom probe
Detalles Bibliográficos
Autores principales:
Cerezo, A
,
Larson, D
,
Smith, G
Formato:
Journal article
Publicado:
2001
Existencias
Descripción
Ejemplares similares
Vista Equipo
Ejemplares similares
Three-dimensional atom probe studies of metallic multilayers
por: Larson, D, et al.
Publicado: (1999)
Three-dimensional atomic scale analysis of nanostructured materials
por: Cerezo, A, et al.
Publicado: (2001)
Some recent advances in three dimensional atomic scale microanalysis with the atom probe (invited)
por: Cerezo, A, et al.
Publicado: (1994)
Information storage materials: nanoscale characterisation by three-dimensional atom probe analysis
por: Larson, D, et al.
Publicado: (2004)
Improvement of multilayer analyses with a three-dimensional atom probe
por: Vurpillot, F, et al.
Publicado: (2004)