Siirry sisältöön
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Kieli
Kaikki kentät
Nimeke
Tekijä
Aihe
Hyllypaikka
ISBN/ISSN
Tagi
Hae
Tarkennettu
Progress in the atomic-scale a...
Sitaatti
Tekstiviesti
Lähetä sähköpostilla
Tulosta
Vie tietue
Vienti: RefWorks
Vienti: EndNoteWeb
Vienti: EndNote
Pysyvä linkki
Progress in the atomic-scale analysis of materials with the three-dimensional atom probe
Bibliografiset tiedot
Päätekijät:
Cerezo, A
,
Larson, D
,
Smith, G
Aineistotyyppi:
Journal article
Julkaistu:
2001
Saatavuustiedot
Kuvaus
Samankaltaisia teoksia
Henkilökuntanäyttö
Samankaltaisia teoksia
Three-dimensional atom probe studies of metallic multilayers
Tekijä: Larson, D, et al.
Julkaistu: (1999)
Three-dimensional atomic scale analysis of nanostructured materials
Tekijä: Cerezo, A, et al.
Julkaistu: (2001)
Some recent advances in three dimensional atomic scale microanalysis with the atom probe (invited)
Tekijä: Cerezo, A, et al.
Julkaistu: (1994)
Information storage materials: nanoscale characterisation by three-dimensional atom probe analysis
Tekijä: Larson, D, et al.
Julkaistu: (2004)
Improvement of multilayer analyses with a three-dimensional atom probe
Tekijä: Vurpillot, F, et al.
Julkaistu: (2004)