Preskoči na sadržaj
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Jezik
Sva polja
Naslov
Autor
Tema
Signatura
ISBN/ISSN
Oznaka
Pronađi
Napredno
Progress in the atomic-scale a...
Citiraj ovo
Pošalji tekstualnu poruku
Pošalji ovo e-mailom
Ispiši
Izvezi zapis
Izvezi u RefWorks
Izvezi u EndNoteWeb
Izvezi u EndNote
Stalna poveznica
Progress in the atomic-scale analysis of materials with the three-dimensional atom probe
Bibliografski detalji
Glavni autori:
Cerezo, A
,
Larson, D
,
Smith, G
Format:
Journal article
Izdano:
2001
Primjerci
Opis
Slični predmeti
Prikaz za djelatnike knjižnice
Slični predmeti
Three-dimensional atom probe studies of metallic multilayers
od: Larson, D, i dr.
Izdano: (1999)
Three-dimensional atomic scale analysis of nanostructured materials
od: Cerezo, A, i dr.
Izdano: (2001)
Some recent advances in three dimensional atomic scale microanalysis with the atom probe (invited)
od: Cerezo, A, i dr.
Izdano: (1994)
Information storage materials: nanoscale characterisation by three-dimensional atom probe analysis
od: Larson, D, i dr.
Izdano: (2004)
Improvement of multilayer analyses with a three-dimensional atom probe
od: Vurpillot, F, i dr.
Izdano: (2004)