Пропуск в контексте
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Язык
Все поля
Заглавие
Автор
Предмет
Шифр
ISBN/ISSN
Метка
Найти
Расширенный поиск
Progress in the atomic-scale a...
Цитировать
Отправить по sms
Отправить на Email
Печать
Запись для экспорта
Экспорт в RefWorks
Экспорт в EndNoteWeb
Экспорт в EndNote
Постоянная ссылка
Progress in the atomic-scale analysis of materials with the three-dimensional atom probe
Библиографические подробности
Главные авторы:
Cerezo, A
,
Larson, D
,
Smith, G
Формат:
Journal article
Опубликовано:
2001
Фонды
Описание
Схожие документы
Marc-запись
Схожие документы
Three-dimensional atom probe studies of metallic multilayers
по: Larson, D, и др.
Опубликовано: (1999)
Three-dimensional atomic scale analysis of nanostructured materials
по: Cerezo, A, и др.
Опубликовано: (2001)
Some recent advances in three dimensional atomic scale microanalysis with the atom probe (invited)
по: Cerezo, A, и др.
Опубликовано: (1994)
Information storage materials: nanoscale characterisation by three-dimensional atom probe analysis
по: Larson, D, и др.
Опубликовано: (2004)
Improvement of multilayer analyses with a three-dimensional atom probe
по: Vurpillot, F, и др.
Опубликовано: (2004)