Chuyển đến nội dung
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Ngôn ngữ
Tất cả các trường
Tiêu đề
Tác giả
Chủ đề
Số hiệu
số ISBN/ISSN
Nhãn
Tìm kiếm
Nâng cao
Progress in the atomic-scale a...
Trích dẫn điều này
Văn bản này
Email này
In
Xuất bản ghi
Xuất tới RefWorks
Xuất tới EndNoteWeb
Xuất tới EndNote
Liên kết dài hạn
Progress in the atomic-scale analysis of materials with the three-dimensional atom probe
Chi tiết về thư mục
Những tác giả chính:
Cerezo, A
,
Larson, D
,
Smith, G
Định dạng:
Journal article
Được phát hành:
2001
Đang giữ
Miêu tả
Những quyển sách tương tự
Chế độ xem nhân viên
Những quyển sách tương tự
Three-dimensional atom probe studies of metallic multilayers
Bằng: Larson, D, et al.
Được phát hành: (1999)
Three-dimensional atomic scale analysis of nanostructured materials
Bằng: Cerezo, A, et al.
Được phát hành: (2001)
Some recent advances in three dimensional atomic scale microanalysis with the atom probe (invited)
Bằng: Cerezo, A, et al.
Được phát hành: (1994)
Information storage materials: nanoscale characterisation by three-dimensional atom probe analysis
Bằng: Larson, D, et al.
Được phát hành: (2004)
Improvement of multilayer analyses with a three-dimensional atom probe
Bằng: Vurpillot, F, et al.
Được phát hành: (2004)