Anar al contingut
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Idioma
Tots els camps
Títol
Autor
Matèria
Signatura
ISBN/ISSN
Etiqueta
Trobar
Avançada
Aberration corrected TEM: curr...
Citar
Enviar aquest missatge de text
Enviar per correu electrònic aquest
Imprimir
Exportar registre
Exportar a RefWorks
Exportar a EndNoteWeb
Exportar a EndNote
Enllaç permanent
Aberration corrected TEM: current status and future prospects
Dades bibliogràfiques
Autors principals:
Kirkland, A
,
Haigh, S
,
Chang, L
Format:
Conference item
Publicat:
2008
Fons
Descripció
Ítems similars
Visualització del personal
Ítems similars
High-resolution TEM and the application of direct and indirect aberration correction.
per: Hetherington, C, et al.
Publicat: (2008)
Aberration corrected tilt series restoration
per: Haigh, S, et al.
Publicat: (2008)
TOPICAL REVIEW: Present status and future prospects of spherical aberration corrected TEM/STEM for study of nanomaterials
per: Nobuo Tanaka
Publicat: (2008-01-01)
Aberration-Corrected Imaging in CTEM
per: Haigh, S, et al.
Publicat: (2011)
High resolution imaging using the Oxford aberration corrected TEM
per: Hetherington, C, et al.
Publicat: (2006)