Μετάβαση στο περιεχόμενο
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Γλώσσα
Όλα τα πεδία
Τίτλος
Συγγραφέας
Θέμα
Ταξιθετικός Αριθμός
ISBN/ISSN
Ετικέτα
Αναζήτηση
Σύνθετη
Aberration Correction and Exit...
Εμφάνιση παραπομπής
Αποστολή με SMS
Αποστολή με email
Εκτύπωση
Αποθήκευση
Αποθήκευση σε RefWorks
Αποθήκευση σε EndNoteWeb
Αποθήκευση σε EndNote
Μόνιμος σύνδεσμος
Aberration Correction and Exit Wave Reconstruction Using Tilt Azimuth Data
Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριοι συγγραφείς:
Kirkland, A
,
Haigh, S
Μορφή:
Journal article
Έκδοση:
2009
Τεκμήρια
Περιγραφή
Παρόμοια τεκμήρια
Λεπτομερής προβολή
Παρόμοια τεκμήρια
Optimal tilt magnitude determination for aberration-corrected super resolution exit wave function reconstruction.
ανά: Haigh, S, κ.ά.
Έκδοση: (2009)
Aberration corrected tilt series restoration
ανά: Haigh, S, κ.ά.
Έκδοση: (2008)
Indirect transmission electron microscopy; Aberration measurement and compensation and exit wave reconstruction
ανά: Kirkland, A, κ.ά.
Έκδοση: (2004)
Exceeding conventional resolution limits in high-resolution transmission electron microscopy using tilted illumination and exit-wave restoration.
ανά: Haigh, S, κ.ά.
Έκδοση: (2010)
Recording low and high spatial frequencies in exit wave reconstructions.
ανά: Haigh, S, κ.ά.
Έκδοση: (2013)