Siirry sisältöön
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Kieli
Kaikki kentät
Nimeke
Tekijä
Aihe
Hyllypaikka
ISBN/ISSN
Tagi
Hae
Tarkennettu
Aberration Correction and Exit...
Sitaatti
Tekstiviesti
Lähetä sähköpostilla
Tulosta
Vie tietue
Vienti: RefWorks
Vienti: EndNoteWeb
Vienti: EndNote
Pysyvä linkki
Aberration Correction and Exit Wave Reconstruction Using Tilt Azimuth Data
Bibliografiset tiedot
Päätekijät:
Kirkland, A
,
Haigh, S
Aineistotyyppi:
Journal article
Julkaistu:
2009
Saatavuustiedot
Kuvaus
Samankaltaisia teoksia
Henkilökuntanäyttö
Samankaltaisia teoksia
Optimal tilt magnitude determination for aberration-corrected super resolution exit wave function reconstruction.
Tekijä: Haigh, S, et al.
Julkaistu: (2009)
Aberration corrected tilt series restoration
Tekijä: Haigh, S, et al.
Julkaistu: (2008)
Indirect transmission electron microscopy; Aberration measurement and compensation and exit wave reconstruction
Tekijä: Kirkland, A, et al.
Julkaistu: (2004)
Exceeding conventional resolution limits in high-resolution transmission electron microscopy using tilted illumination and exit-wave restoration.
Tekijä: Haigh, S, et al.
Julkaistu: (2010)
Recording low and high spatial frequencies in exit wave reconstructions.
Tekijä: Haigh, S, et al.
Julkaistu: (2013)