Skip to content
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
שפה
כל השדות
כותר
מחבר
נושא
סימן המיקום
ISBN/ISSN
תג
מצא
מתקדם
Aberration Correction and Exit...
יצירת מראה מקום
שליחה במסרון
שלח את זה
הדפסה
יצוא רשומה
יצוא אל RefWorks
יצוא אל EndNoteWeb
יצוא אל EndNote
Permanent link
Aberration Correction and Exit Wave Reconstruction Using Tilt Azimuth Data
מידע ביבליוגרפי
Main Authors:
Kirkland, A
,
Haigh, S
פורמט:
Journal article
יצא לאור:
2009
מלאי ספרים
תיאור
פריטים דומים
תצוגת צוות
פריטים דומים
Optimal tilt magnitude determination for aberration-corrected super resolution exit wave function reconstruction.
מאת: Haigh, S, et al.
יצא לאור: (2009)
Aberration corrected tilt series restoration
מאת: Haigh, S, et al.
יצא לאור: (2008)
Indirect transmission electron microscopy; Aberration measurement and compensation and exit wave reconstruction
מאת: Kirkland, A, et al.
יצא לאור: (2004)
Aberration-Corrected Imaging in CTEM
מאת: Haigh, S, et al.
יצא לאור: (2011)
Exceeding conventional resolution limits in high-resolution transmission electron microscopy using tilted illumination and exit-wave restoration.
מאת: Haigh, S, et al.
יצא לאור: (2010)