Chuyển đến nội dung
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Ngôn ngữ
Tất cả các trường
Tiêu đề
Tác giả
Chủ đề
Số hiệu
số ISBN/ISSN
Nhãn
Tìm kiếm
Nâng cao
Aberration Correction and Exit...
Trích dẫn điều này
Văn bản này
Email này
In
Xuất bản ghi
Xuất tới RefWorks
Xuất tới EndNoteWeb
Xuất tới EndNote
Liên kết dài hạn
Aberration Correction and Exit Wave Reconstruction Using Tilt Azimuth Data
Chi tiết về thư mục
Những tác giả chính:
Kirkland, A
,
Haigh, S
Định dạng:
Journal article
Được phát hành:
2009
Đang giữ
Miêu tả
Những quyển sách tương tự
Chế độ xem nhân viên
Những quyển sách tương tự
Optimal tilt magnitude determination for aberration-corrected super resolution exit wave function reconstruction.
Bằng: Haigh, S, et al.
Được phát hành: (2009)
Aberration corrected tilt series restoration
Bằng: Haigh, S, et al.
Được phát hành: (2008)
Indirect transmission electron microscopy; Aberration measurement and compensation and exit wave reconstruction
Bằng: Kirkland, A, et al.
Được phát hành: (2004)
Exceeding conventional resolution limits in high-resolution transmission electron microscopy using tilted illumination and exit-wave restoration.
Bằng: Haigh, S, et al.
Được phát hành: (2010)
Recording low and high spatial frequencies in exit wave reconstructions.
Bằng: Haigh, S, et al.
Được phát hành: (2013)