Перейти до змісту
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Мова
Всі поля
Назва
Автор
Предмет
Шифр
ISBN/ISSN
Тег
Знайти
Розширений
Aberration-Corrected Imaging i...
Цитувати
Відправити по sms
Відправити е-поштою
Друк
Експортувати запис
Екпортувати в RefWorks
Екпортувати в EndNoteWeb
Екпортувати в EndNote
Постійне посилання
Aberration-Corrected Imaging in Conventional Transmission Electron Microscopy and Scanning Transmission Electron Microscopy
Бібліографічні деталі
Автори:
Kirkland, A
,
Nellist, P
,
Chang, L
,
Haigh, S
Формат:
Journal article
Опубліковано:
2008
Примірники
Опис
Схожі ресурси
Службовий вигляд
Опис
Резюме:
Схожі ресурси
Chapter 8 Aberration-Corrected Imaging in Conventional Transmission Electron Microscopy and Scanning Transmission Electron Microscopy
за авторством: Kirkland, A, та інші
Опубліковано: (2008)
Progress in aberration-corrected scanning transmission electron microscopy.
за авторством: Dellby, N, та інші
Опубліковано: (2001)
Imaging modes for scanning confocal electron microscopy in a double aberration-corrected transmission electron microscope.
за авторством: Nellist, P, та інші
Опубліковано: (2008)
Three-dimensional imaging using aberration-corrected scanning transmission and confocal electron microscopy
за авторством: Cosgriff, E, та інші
Опубліковано: (2008)
Scanning confocal electron microscopy in a double aberration corrected transmission electron microscope
за авторством: Nellist, P, та інші
Опубліковано: (2008)