Chuyển đến nội dung
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Ngôn ngữ
Tất cả các trường
Tiêu đề
Tác giả
Chủ đề
Số hiệu
số ISBN/ISSN
Nhãn
Tìm kiếm
Nâng cao
Aberration-Corrected Imaging i...
Trích dẫn điều này
Văn bản này
Email này
In
Xuất bản ghi
Xuất tới RefWorks
Xuất tới EndNoteWeb
Xuất tới EndNote
Liên kết dài hạn
Aberration-Corrected Imaging in Conventional Transmission Electron Microscopy and Scanning Transmission Electron Microscopy
Chi tiết về thư mục
Những tác giả chính:
Kirkland, A
,
Nellist, P
,
Chang, L
,
Haigh, S
Định dạng:
Journal article
Được phát hành:
2008
Đang giữ
Miêu tả
Những quyển sách tương tự
Chế độ xem nhân viên
Miêu tả
Tóm tắt:
Những quyển sách tương tự
Chapter 8 Aberration-Corrected Imaging in Conventional Transmission Electron Microscopy and Scanning Transmission Electron Microscopy
Bằng: Kirkland, A, et al.
Được phát hành: (2008)
Progress in aberration-corrected scanning transmission electron microscopy.
Bằng: Dellby, N, et al.
Được phát hành: (2001)
Imaging modes for scanning confocal electron microscopy in a double aberration-corrected transmission electron microscope.
Bằng: Nellist, P, et al.
Được phát hành: (2008)
Three-dimensional imaging using aberration-corrected scanning transmission and confocal electron microscopy
Bằng: Cosgriff, E, et al.
Được phát hành: (2008)
Scanning confocal electron microscopy in a double aberration corrected transmission electron microscope
Bằng: Nellist, P, et al.
Được phát hành: (2008)