تخطي إلى المحتوى
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
اللغة
كل الحقول
العنوان
المؤلف
الموضوع
رقم الاستدعاء
ردمك/تدمد
الوسم
ابحث
بحث متقدم
Aberration-Corrected Imaging i...
استشهد بهذا
أرسل هذا في رسالة قصيرة
أرسل هذا بالبريد الإلكتروني
طباعة
تصدير التسجيلة
تصدير إلى RefWorks
تصدير إلى EndNoteWeb
تصدير إلى EndNote
رابط دائم
Aberration-Corrected Imaging in Conventional Transmission Electron Microscopy and Scanning Transmission Electron Microscopy
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلفون الرئيسيون:
Kirkland, A
,
Nellist, P
,
Chang, L
,
Haigh, S
التنسيق:
Journal article
منشور في:
2008
المقتنيات
الوصف
مواد مشابهة
عرض للأخصائي
مواد مشابهة
Chapter 8 Aberration-Corrected Imaging in Conventional Transmission Electron Microscopy and Scanning Transmission Electron Microscopy
حسب: Kirkland, A, وآخرون
منشور في: (2008)
Progress in aberration-corrected scanning transmission electron microscopy.
حسب: Dellby, N, وآخرون
منشور في: (2001)
Imaging modes for scanning confocal electron microscopy in a double aberration-corrected transmission electron microscope.
حسب: Nellist, P, وآخرون
منشور في: (2008)
Three-dimensional imaging using aberration-corrected scanning transmission and confocal electron microscopy
حسب: Cosgriff, E, وآخرون
منشور في: (2008)
Scanning confocal electron microscopy in a double aberration corrected transmission electron microscope
حسب: Nellist, P, وآخرون
منشور في: (2008)