Anar al contingut
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Idioma
Tots els camps
Títol
Autor
Matèria
Signatura
ISBN/ISSN
Etiqueta
Trobar
Avançada
Aberration-Corrected Imaging i...
Citar
Enviar aquest missatge de text
Enviar per correu electrònic aquest
Imprimir
Exportar registre
Exportar a RefWorks
Exportar a EndNoteWeb
Exportar a EndNote
Enllaç permanent
Aberration-Corrected Imaging in Conventional Transmission Electron Microscopy and Scanning Transmission Electron Microscopy
Dades bibliogràfiques
Autors principals:
Kirkland, A
,
Nellist, P
,
Chang, L
,
Haigh, S
Format:
Journal article
Publicat:
2008
Fons
Descripció
Ítems similars
Visualització del personal
Ítems similars
Chapter 8 Aberration-Corrected Imaging in Conventional Transmission Electron Microscopy and Scanning Transmission Electron Microscopy
per: Kirkland, A, et al.
Publicat: (2008)
Progress in aberration-corrected scanning transmission electron microscopy.
per: Dellby, N, et al.
Publicat: (2001)
Imaging modes for scanning confocal electron microscopy in a double aberration-corrected transmission electron microscope.
per: Nellist, P, et al.
Publicat: (2008)
Three-dimensional imaging using aberration-corrected scanning transmission and confocal electron microscopy
per: Cosgriff, E, et al.
Publicat: (2008)
Scanning confocal electron microscopy in a double aberration corrected transmission electron microscope
per: Nellist, P, et al.
Publicat: (2008)