Aberration-Corrected Imaging in Conventional Transmission Electron Microscopy and Scanning Transmission Electron Microscopy

Մատենագիտական մանրամասներ
Հիմնական հեղինակներ:	Kirkland, A, Nellist, P, Chang, L, Haigh, S
Ձևաչափ:	Journal article
Հրապարակվել է:	2008

Նմանատիպ նյութեր