Ga door naar de inhoud
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Taal
Alle velden
Titel
Auteur
Onderwerp
Plaatsingsnummer
ISBN/ISSN
Tag
Zoek
Geavanceerd
Aberration-Corrected Imaging i...
Citeren
SMS dit
Versturen
Afdrukken
Exporteer Record
Exporteer naar RefWorks
Exporteer naar EndNoteWeb
Exporteer naar EndNote
Permalink
Aberration-Corrected Imaging in Conventional Transmission Electron Microscopy and Scanning Transmission Electron Microscopy
Bibliografische gegevens
Hoofdauteurs:
Kirkland, A
,
Nellist, P
,
Chang, L
,
Haigh, S
Formaat:
Journal article
Gepubliceerd in:
2008
Exemplaren
Omschrijving
Gelijkaardige items
Personeel
Gelijkaardige items
Chapter 8 Aberration-Corrected Imaging in Conventional Transmission Electron Microscopy and Scanning Transmission Electron Microscopy
door: Kirkland, A, et al.
Gepubliceerd in: (2008)
Progress in aberration-corrected scanning transmission electron microscopy.
door: Dellby, N, et al.
Gepubliceerd in: (2001)
Imaging modes for scanning confocal electron microscopy in a double aberration-corrected transmission electron microscope.
door: Nellist, P, et al.
Gepubliceerd in: (2008)
Three-dimensional imaging using aberration-corrected scanning transmission and confocal electron microscopy
door: Cosgriff, E, et al.
Gepubliceerd in: (2008)
Scanning confocal electron microscopy in a double aberration corrected transmission electron microscope
door: Nellist, P, et al.
Gepubliceerd in: (2008)