Пропуск в контексте
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Язык
Все поля
Заглавие
Автор
Предмет
Шифр
ISBN/ISSN
Метка
Найти
Расширенный поиск
Aberration-Corrected Imaging i...
Цитировать
Отправить по sms
Отправить на Email
Печать
Запись для экспорта
Экспорт в RefWorks
Экспорт в EndNoteWeb
Экспорт в EndNote
Постоянная ссылка
Aberration-Corrected Imaging in Conventional Transmission Electron Microscopy and Scanning Transmission Electron Microscopy
Библиографические подробности
Главные авторы:
Kirkland, A
,
Nellist, P
,
Chang, L
,
Haigh, S
Формат:
Journal article
Опубликовано:
2008
Фонды
Описание
Схожие документы
Marc-запись
Схожие документы
Chapter 8 Aberration-Corrected Imaging in Conventional Transmission Electron Microscopy and Scanning Transmission Electron Microscopy
по: Kirkland, A, и др.
Опубликовано: (2008)
Progress in aberration-corrected scanning transmission electron microscopy.
по: Dellby, N, и др.
Опубликовано: (2001)
Imaging modes for scanning confocal electron microscopy in a double aberration-corrected transmission electron microscope.
по: Nellist, P, и др.
Опубликовано: (2008)
Three-dimensional imaging using aberration-corrected scanning transmission and confocal electron microscopy
по: Cosgriff, E, и др.
Опубликовано: (2008)
Scanning confocal electron microscopy in a double aberration corrected transmission electron microscope
по: Nellist, P, и др.
Опубликовано: (2008)